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                      反射式膜厚儀的三點使用注意事項

                      發布時間:2022-10-24   點擊次數:818次
                        反射式膜厚儀對材料表面起保護,裝飾作用的覆蓋層,如涂層,鍍層,敷層,貼層,化學生成膜等,在一些國家和國際標準中稱為覆層。
                        覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確要求。
                        覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
                        反射式膜厚儀的使用注意事項:
                        1.零點校準
                        在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準,因為之前的測量參數會影響該次對物體的測量,零點校準可以消除前次測量有參數的影響,能夠降低測量的結果的誤差,使測量結果更加精確。
                        2.基體厚度不宜過薄
                        在使用反射式膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄,否則會極大程度的影響儀器的測量精度,造成數據結果不準確,影響測量過程的正常進行。
                        3.物體表面粗糙程度
                        對于被測物體的表面不宜太過粗糙,因為粗糙的表面容易引起光的衍射,降低了光學測量儀的測量精度,造成很大的誤差。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑,以保證測量結果的精確性。
                      蘇州瑞格譜光電科技有限公司

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